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    湖北布魯克XRD衍射儀配件

    發布時間:2024-12-28 17:47:17   來源:湖南省順超環保科技有限公司   閱覽次數:8次   

    蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)安裝在標準陶瓷X射線管前面,可多達6種不同的光束幾何之間自動地進行電動切換,無需認為干預。湖北布魯克XRD衍射儀配件

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    不論您的預算如何,D8ADVANCEECO系列都能通過儀器配置為您帶來好的性能。由于降低了對水和電力等資源的需求,其運營成本降低。出色的儀器質量為可靠性提供了保證,同時布魯克還為之提供組件質量保證。無外部供水成本1kW高效發生器降低電力成本,無外部冷卻器耗電延長了X射線管的使用壽命X射線管質量保證:D8ADVANCEECO可用的所有高亮度X射線源均享有3年保修測角儀質量保證:測角儀采用免維護的堅固設計,可為您帶來機械強度和較長的使用壽命,因此能夠為您提供好的數據質量。其中,布魯克提供10年保修。儀器準直保證探測器質量保證湖北進口XRD衍射儀配件XRD可研究材料的結構和物理特性,是 重要的材料研究工具之一。

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    超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節點技術的發展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

    由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。憑借RapidRSM技術,能在 短的時間內,測量大面積倒易空間。在DIFFRAC.LEPTOS中,進行倒易點陣轉換和分析。

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    D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,其能耗極低,無需外設水冷,對實驗室基礎設施亦無特殊要求。您只需準備家用壁式插座即可。因此,您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,將擁有成本和立式XRD儀器的生態足跡降至。插件分析:無需外設水冷:每年可節約高達1.700m3的自來水耗電減少50%左右需單相電源,由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976)的準直保證。目前,在峰位、強度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。D8D對地質構造研究,借助μXRD,哪怕是很小的包裹體定性相分析和結構測定都不在話下。天津實驗室檢測XRD衍射儀

    D8 DISCOVER系列是市面上準確、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案。湖北布魯克XRD衍射儀配件

    材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊型尤拉環plus樣品臺的Phi旋轉角度不受限制,Psi傾斜度在-5°到95°之間,可用于應力、織構和外延薄膜分析。另外,它還具有真空多用途通孔,可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,將樣品固定在適當位置。二者均可用于溫控樣品臺,進行非環境分析。另外,它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統,輕松更換樣品臺。湖北布魯克XRD衍射儀配件

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